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2017年黑龍江科技大學(xué)材料分析測(cè)試技術(shù)考研復(fù)試大綱

考研專業(yè)課大綱來源：中國(guó)考研網(wǎng) 2017-01-18　相關(guān)院校：黑龍江科技大學(xué)

材料分析測(cè)試技術(shù)考研復(fù)試大綱

《材料分析測(cè)試技術(shù)》考試大綱適用專業(yè)名稱：材料科學(xué)與工程
科目代碼及名稱	考試大綱
5材料分析測(cè)試技術(shù)	一、考試目的與要求測(cè)試考生對(duì)X射線衍射分析技術(shù)、掃描電子顯微鏡、電子探針、透射電鏡等分析技術(shù)的掌握程度，使學(xué)生掌握材料研究的基本方法，學(xué)會(huì)進(jìn)行材料微觀組織結(jié)構(gòu)分析和物理性能分析的常用儀器設(shè)備的原理及使用方法，使學(xué)生具備分析研究材料的組織結(jié)構(gòu)所必須的基礎(chǔ)理論、基礎(chǔ)知識(shí)與基本技能。二、試卷結(jié)構(gòu)（滿分100分）內(nèi)容比例： X射線衍射分析約35分透射電鏡分析約20分掃描電鏡分析約20分電子探針分析約25分題型比例：客觀題約30分 1．填空題（選擇或判斷）約15分 2．名詞解釋約15分主觀題約70分 1. 簡(jiǎn)答題約20分 2. 證明題約20分 3. 綜合分析題約30分三、考試內(nèi)容與要求（一）X射線衍射分析考試內(nèi)容 X射線物理基礎(chǔ)、X射線衍射方向、X射線衍射強(qiáng)度、多晶體分析方法、 X射線物相分析及點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)定考試要求 1. 掌握X射線的本質(zhì)、X射線譜的分類及特征譜的產(chǎn)生機(jī)理； 2. 掌握X射線與物質(zhì)的相互作用； 3. 掌握布拉格方程的推導(dǎo)及應(yīng)用； 4.理解結(jié)構(gòu)因子的物理意義，掌握三種常見點(diǎn)陣消光規(guī)律，掌握X射線衍射強(qiáng)度公式； 5、理解各種衍射分析方法，掌握X射線衍射儀的參數(shù)設(shè)置； 6、掌握物相定性分析的原理、方法與步驟； 7、掌握PDF卡片的組成及索引方法； 8、掌握物相定量分析的原理及方法； 9、掌握立方晶系物質(zhì)點(diǎn)陣常數(shù)的精確測(cè)定。（二）電子光學(xué)基礎(chǔ)及透射電子分析考試內(nèi)容電子波與電磁透鏡、電磁透鏡的像差與分辨本領(lǐng)、電磁透鏡的景深和焦長(zhǎng)，電子衍射原理、電子顯微鏡中的電子衍射、單晶體電子衍射花樣標(biāo)定以及復(fù)雜電子衍射花樣。透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與成像原理、主要部件的結(jié)構(gòu)與工作原理；透射電子顯微鏡分辨本領(lǐng)和放大倍數(shù)的測(cè)定，薄膜樣品的制備；衍襯成像原理；消光距離考試要求 1. 掌握電子透鏡及其景深與焦長(zhǎng)、電磁透鏡的像差與分辨本領(lǐng)； 2.理解透射電鏡的結(jié)構(gòu)，了解透射電鏡的應(yīng)用樣品的制備方法并能制備電鏡樣品； 3.掌握電子衍射原理和衍稱成像原理； 4.能夠分析電子衍射花樣。（三）掃描電子顯微鏡考試內(nèi)容電子束與固體樣品作用、掃描電子顯微鏡的構(gòu)造和工作原理、掃描電子顯微鏡的主要性能、表面形貌襯度原理及其應(yīng)用、原子序數(shù)襯度原理及其應(yīng)用考試要求 1. 理解掃描電子顯微鏡的構(gòu)造和工作原理 2. 了解電子束與固體樣品作用時(shí)產(chǎn)生的信號(hào) 3. 掌握掃描電子顯微鏡的主要性能、表面形貌襯度原理及其應(yīng)用 4. 應(yīng)用SEM圖像分析物質(zhì) （四）電子探針顯微分析考試內(nèi)容電子探針儀的結(jié)構(gòu)與工作原理；電子探針儀的分析方法及其應(yīng)用考試要求 1. 理解電子探針分析構(gòu)造 2. 了解電子探針分析應(yīng)用 3. 掌握電子探針分析方法及微區(qū)成分分析技術(shù) 4. 應(yīng)用微區(qū)分析技術(shù)分析物質(zhì)成分和結(jié)構(gòu) 參考書目：《材料分析方法》（第三版），周玉主編，哈爾濱工業(yè)大學(xué)出版社，2011年

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